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    葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原子力顯微鏡

    簡(jiǎn)要描述:葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原子力顯微鏡 可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀(guān)測樣品微區三維形貌和多相結構(納米級別);同時(shí)可對樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究,數值測定與分析。

    • 產(chǎn)品型號:
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 更新時(shí)間:2023-11-23
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2244

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    詳細介紹
    品牌其他品牌儀器種類(lèi)原子力顯微鏡
    價(jià)格區間面議產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
    應用領(lǐng)域食品,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥

    TT2-AFM原子力顯微鏡

    1.標準工作模式:

    1.1輕敲模式(Vibration mode)

    1.2接觸模式(Contact mode)

    1.3相位成像模式(Phase imaging)

    1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

    1.5力曲線(xiàn)測試(Force curve)可測楊氏模量

    1.6納米操控 (Nanomanipulation)

    1.7納米刻蝕 (Nanolithography)

    1.8力矩陣模式 (Force Mapping)

    1.9摩擦力測試 (Friction Mode)

    2. 可選工作模式:

    2.1 磁力顯微鏡模式(MFM mode)

    2.2 靜電力顯微鏡模式(EFM mode)

    2.3 導電顯微鏡模式(C-AFM mode)

    2.4 液相模式 (Liquid scan mode)

    AFMWorkshop是專(zhuān)門(mén)從事設計和制造原子力顯微鏡的專(zhuān)業(yè)化公司 。公司創(chuàng )始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗的 Paul West博士,原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

    掃描范圍:100 μm,50 μm,15μmZ方向范圍:17 μm,7 μmXY方向驅動(dòng)分辨率:0.01 nmZ方向驅動(dòng)分辨率:0.003 nmZ方向測量噪音水平:0.15 nm樣品尺寸:直徑25mm


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